1、薄涂層的測量準(zhǔn)que度和厚度沒有任何關(guān)系，是一個(gè)常數(shù)，厚涂層的測量準(zhǔn)que度是一個(gè)近似恒定的分?jǐn)?shù)和厚度的乘積。

2、基體磁性的變化會(huì)影響測量的數(shù)據(jù)，所以涂鍍層測厚儀校準(zhǔn)時(shí)要采用材質(zhì)和試樣基體一樣的校準(zhǔn)；

采用待鍍產(chǎn)品做基體實(shí)行儀器校準(zhǔn)，以防止不一樣的個(gè)體或局部熱處理和冷加工影響測量數(shù)據(jù)。

3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量數(shù)據(jù)往往是不牢靠的，這種效應(yīng)或許從不持續(xù)處向前延續(xù)約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時(shí)，數(shù)據(jù)隨曲率半徑的減小而開始顯著。